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デュアルタイプ膜厚計 LZ-373

デュアルタイプ膜厚計 LZ-373 デュアルタイプ膜厚計 LZ-373
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小型ボディに多機能を凝縮

ケツト膜厚計 373シリーズ

LZ-373は磁性体および非磁性金属上の被膜厚の測定ができるデュアルタイプの膜厚計です。多様な素材、多様な被膜を扱う現場用として最適な膜厚計です。プリンタやコンピュータへのデータ転送、測定回数、平均値、最大最小値、標準偏差などの簡単な統計処理や、16種類もの付加機能を装備しています。

〈測定原理〉

● 電磁式  (磁性金属上の非磁性被膜の測定)

交流電磁石を鉄(磁性金属)に接近させると、接近距離によって、コイルを貫く磁束数が変化し、そのためコイルの両端にかかる電圧が変化します。この電圧変化を電流値から読み取り、膜厚に換算します。

● 渦電流式  (非磁性金属上の絶縁被膜の測定)

一定の高周波電流を流したコイルを金属に近づけると、金属表面上に渦電流が生じます。この渦電流はコイルと金属面との距離に応じて変化し、そのためコイルの両端にかかる電圧も変化します。この変化を電流値から読み取り、膜厚に換算します。

測定対象

仕様

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